정밀 부품을 취급하는 산업현장의 경우 마이크로미터(μm, 1mm의 1/1000) 크기 미세한 먼지나 이물질도 부품의 신뢰성과 내구성에 영향을 미칠 수 있다.
CIX100은 청정도 분석을 위한 현미경과 전용 SW가 합쳐진 통합시스템으로 최소 2.5μm, 최대 42mm 크기의 오염 물질을 실시간으로 분석할 수 있다.
특히 우수한 신뢰성을 바탕으로 빠른 검사를 지원할 뿐만아니라 검사결과 보고서까지 버튼 한 번으로 출력할 수 있어 편리하다.
검출해야 하는 파티클의 패턴을 기록해 놓은 파티클 표준장치를 탑재해 검사를 정기적으로 실시할 수 있어 검사 결과의 안정성까지 확보할 수 있는 것이 장점이다.
사용 방법도 간편하다. 검사 샘플을 설치하고 모니터를 통해 SW를 조작하는 것만으로 장치가 자동 제어되기 때문에 검사 시작부터 보고서 작성까지 간편하게 진행할 수 있다.
또 한 번의 스캔만으로도 금속 이물질과 비금속 이물질 두 종류의 파티클을 고감도로 검출해주며 촬영 범위를 초과하는 큰 파티클의 이미지 자동 조정할 수 있다. 검사 중 발견된 파티클의 세부 정보 확인과 규격에 따른 검사 결과 정보가 수시로 업데이트되는 기능 등을 탑재해 신뢰성을 높이고 보다 신속한 검사를 돕는다.
이규태 기자 allo@